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先进光电探测器量子效率与参数分析系统

简要描述:APD-QE 采用了光束空间强度技术,利用 ASTM 标准制定的「Irradiance Mode」测试方式,与各种先进探尖台形成完整的微米级光感测器全光谱效率测试解决方案。APD-QE 已被应用于多种先进光感测器的测试中,例如在iPhone 曝光及其多种光感测器、Apple Watch 血氧光感测器、TFT 影像感测器、源动态图元感测器(APS)、高灵敏度间切换 X 射线感测器等。

  • 产品型号:APD-QE
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-06-28
  • 访  问  量: 18

详细介绍

品牌Enlitech价格区间面议
测量模式交流产地类别进口
应用领域环保,能源

特色


  • 使用均勻光源的「照度模式」(Irradiance Mode) 符合ASTM E1021

  • 取代传统聚焦小光源,可以测试等级光电子检测器。

  • 均势光斑可以克服色散差与像差的问题,可准确测量得EQE曲线

  • 可搭配多种探针系统,实现非破坏性的快速测试。

  • 整合光学与测试系统,提高系统搭建效率。

  • 一体式自动化测试软件,自动光谱保存与检测,工作效率高。

  • 測試特性:

– 环境效率 EQE

– 光譜回應 SR

– IV 曲线检测

– NEP 光谱检测

– D* 光谱检测

– 噪声-电流-频率响应图(A/Hz -1/2 ; 0.01Hz~1,000Hz)

Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析



专业技术


先进光电探测器量子效率与参数分析系统定制化光斑尺寸与光强度

APD-QE光谱仪量子效率检查系统在光束直达25mm光束尺寸、工作距200mm条件下检查,可以达到光强度与光均强度如下。在波长530nm时,光强度可以达到82.97uW/(cm 2 )。


波长 (纳米)半高寬(nm)光均U%=(Mm)/(M+m)
5毫米×5毫米3毫米×3毫米
47017.651.6%1.0%
53020.131.6%1.2%
63019.851.6%0.9%
100038.891.2%0.5%
140046.051.0%0.5%
160037.401.4%0.7%


在光斑直径25mm、工作距200mm条件下,APD-QE探测器量子效率测试系统测量的光均强度。

具備自主光學設計能力。光斑與光強度在內容中,可以接受客製化,如有需要與我們聯繫。



先进光电探测器量子效率与参数分析系统定量控制功能


APD-QE 光感测器量子效率检测系统具有「定量」功能(选配),用户可以透过控制各个单色光子数,让各波长光子数都一样,并进行测试。这也是光感测科技 APD-QE 光感测器量子效率检测系统的独到技术,其他厂商都做不到。


先进光电探测器量子效率与参数分析系统使用定量子数控制模式(CP控制模式),子数变化可以 < 1%


系統架构

先进光电探测器量子效率与参数分析系统


系統規格

统一系统与探针整合

先进光电探测器量子效率与参数分析系统
可量測可客裂解
1.最终光強校正.客化暗箱
2.光谱响应测定.XYZ轴位移平台
3.外部量子效率(EQE).定制探针台整合服务.
4.NEP 光譜
5.D*光譜
6.噪音-电流-频率響應图(A/Hz -1/2 )
7.Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析
8.IV 曲线测试
.不同光IV 曲线测试
.定电流/电压,电压/电流间变化测试
.照光条件下

高均光斑

  采用了利傅立叶光学元件均光系统,可将单色光强度空间分布均势化。在 10mm x 10mm 面积以 5 x 5 检测光强度分,不一致势在 470nm、530nm、630nm、850nm 均可小於 1%。在 20mm x 20mm 面积以 10 x 10 矩检测光强度分,不一致势可以小於 4%。


PDSW 软体

  PDSW软件采用全新SW-XQE软件平台,可进行多种自动化检测,包含EQE、SR、IV、NEP、D*、速率杂讯电流图(A/Hz1/2)、杂讯分析等。



▌EQE 测试

  EQE测试功能,可以进行不同单色波长测试,并且可以自动测试全光谱EQE。


▌IV檢查

  软体可支持多种 SMU 控制,自动进行光照 IV 测试以及暗态 IV 测试,并支持多图显示。


▌D* 与 NEP

  相对于其它 QE 系统,APD-QE 可以直接检测并得到 D* 与 NEP。


▌速率-杂讯电流曲线


▌可升级软件

  升级FETOS软件操作界面(选配),可测试3端与4端的Photo-FET组件。


内部集成探针台


  APD-QE 系统由其出色的光学系统设计,可以组成多种探针台。全波长光谱仪的所有光学元件都集成在精巧的系统中。单色光学仪引到探针台遮光罩盒。图像显示了 MPS-4-S 基本探针台组件,带有 4 英寸真空吸入盘和 4 个带有低噪音三轴电子的探针微定位器。

先进光电探测器量子效率与参数分析系统
先进光电探测器量子效率与参数分析系统
先进光电探测器量子效率与参数分析系统

  集成探针台显示微镜,手动滑动切换到被测试设备的位置。使用滑动条件后,单色光源器被「固定」在设计位置。显示微图像可以显示于屏幕上,方便用户进行良好的连接。


可客制化整合多种探针与遮光暗箱

先进光电探测器量子效率与参数分析系统

A. 定制化隔离遮光箱。
B. 由于先进的PD估算响应速度,所以有效面积就要小(降低容量效率),因此,有很多需要整合探针台的需求。
C. 可整合不同的半导体分析仪器如4200或E1500。


應用程式

  1. LiDAR 中的光电探测器
    – InGaAs 光电二维 / SPAD

  2. 苹果手錶光能電感測器

  3. 用於高增益感和成像光電二極體門控電晶體

  4. 高频电感增益和填充系数光学灵敏度分析仪

  5. 高灵敏程度间转换X射线探測器表徵

  6. 矽光學
    – InGaAs APD











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